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研究利用统计公差技术，构建Cp-k平面内的面向不合格品率的统计公差带模型，建立过程能力指数Cp、过程偏移系数k和产品小合格晶率Pd的关系模型。统计公差对质龄小合格品率的保证是以一定的置信度为依据的，从而又进一步研究了统计公差的置信区间问题。基于以上理论模型的研究，提出了面向目标不合格品率的统计过程控制方法，在确保生产过程稳定的前提下，利用该方法可以分析控制使实际生产过程达到预期的质量不合格品率，从而能够更有效的监控生产过程的状态。