【摘 要】
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采用粉末压片-X射线荧光光谱法测定三氧化二钒中V、P、Fe、K2O、Na2O、S等含量，通过选择合适的制样条件、确定仪器最佳参数，选用不同生产线生产的具有含量梯度的样品，通过化学定值后绘制校准曲线，以仪器提供的基体校正方法消除吸收与增强效应。该方法简便快速、有良好的精密度和准确度，所得结果与湿法化学结果一致，适用于大批量日常生产检测。
【机 构】
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Produce Department of Panzhihua Steel & Vanadium Co. , Ltd. , Panzhihua 617000, China
【出 处】
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2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)
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采用粉末压片-X射线荧光光谱法测定三氧化二钒中V、P、Fe、K2O、Na2O、S等含量，通过选择合适的制样条件、确定仪器最佳参数，选用不同生产线生产的具有含量梯度的样品，通过化学定值后绘制校准曲线，以仪器提供的基体校正方法消除吸收与增强效应。该方法简便快速、有良好的精密度和准确度，所得结果与湿法化学结果一致，适用于大批量日常生产检测。
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