Structure Study of Epitaxial Films and Interfaces Using Synchrotron Radiation X-ray Diffraction

来源 :中国物理学会2013年秋季学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户：daihongjun2

【摘要】

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Synchrotron radiation x-ray diffraction techniques,including reciprocal space mapping(RSM),crystal truncation rod(CTR),etc,are powerful tools to probe the crystal/domain structure of epitaxial films a

【作者】

：

Zhenlin Luo Dillon Fong Chen Gao

【机构】

：

University of Science and Technology of China,Hefei,230029,China

【出处】

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中国物理学会2013年秋季学术会议

【发表日期】

：

2013年11期

【关键词】

：

Epitaxial film Surface and interface Structure study Synchrotron radiation

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