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材料的光谱发射率是表征材料表面光谱辐射特性的重要热物性参数。在对飞机红外隐身材料的研究中，材料发射率的测量对于材料温度的准确测量具有重要意义。测量材料发射率时，光谱仪光谱响应一般作线性假设，在数据处理时由于非线性误差，对于测量结果的准确度有很大的影响。因此，需要对仪器响应的线性度进行测量，确定不同探测器对应的仪器光谱响应的线性范围。本文介绍了测量光谱仪线性度的具体方法，通过对傅里叶红外光谱仪不同温度下能量的测试，确定了DTGS和InGaAs两种探测器的线性范围，为材料发射率的测量提供了理论依据。