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掠入射X射线衍射(GIXRD)技术是一种新颖的测试技术，它是指以测试时X射线以很小角度入射到样品表面，几乎与样品平行。测试时入射角不变，探测器在大角区扫描测量衍射信号，常被用来表征薄膜的结晶性信息如晶型、取向、结晶度、微晶尺寸等。本文研究了共轭聚合物-均聚辛基芴(PFO)薄膜的微结构及其对相应光电性能的影响，还研究了P3HT及P3HT/PCBM共混薄膜的三维结构。