分析间隙动态变化对光谱分析结果的影响

来源 :中国铁道学会理化检验新技术交流会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:bye_bye
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
其他文献
会议
会议
会议
利用深能级瞬态谱的方法可以了解半导体材料中深能级的信息,缺点是不能检测肖特基二极管中少子的陷阱能级。ODLTS法可以克服这一缺点。因此特别适用于检测不易做成P-n结的Ⅱ—
会议