【摘 要】
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In the popularization and application of infrared imaging detection technology, the uncooled infrared photon detection enables the high speed mid-IR detection at room temperature, which has potential
【机 构】
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Shaanxi Key Laboratory of Optical Information Technology, School of Science, Northwestern Polytechni
【出 处】
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2014`全国半导体器件产业发展、创新产品和新技术研讨会暨第七届中国微纳电子技术交流与学术研讨会
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In the popularization and application of infrared imaging detection technology, the uncooled infrared photon detection enables the high speed mid-IR detection at room temperature, which has potential applications in many fields such as aviation, space detection, industry, etc.For the mid-IR (3-5μm) range, the infrared photosensitivity at room temperature can be achieved by polycrystallization in PbSe film.
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为了深入研究表面处理工艺对AlGaN/GaN HEMT器件特性的影响,本文在栅金属淀积前,分别采用1∶5和1∶10浓度的HCl溶液对样品表面进行了1 min的处理,并与未采用HCl处理的器件的直流特性进行了对比分析.测试结果表明:经1∶5和1∶10的HCl溶液处理后器件的最大饱和电流分别降低了27%和43%,跨导峰值分别降低了9%和48%,且1∶5的HCl处理后的样品阈值电压绝对值增大了1V.分析
本文对AlGaN/GaN HEMT进行了系统的直流和脉冲Ⅰ-Ⅴ测试,观察到在不同测试方法下跨导线性度存在明显的差异。基于该实验现象,提出了栅下势垒层区域中的类受主态陷阱是造成AlGaN/GaN HEMTs跨导非线性的原因。建立了一个基于陷阱充放电的物理模型,通过二维数值仿真,该模型得以验证。仿真计算表明,当栅下类受主陷阱浓度为1.2×1019 cm-3且其能级深度为导带下0.5eV时,仿真所得器件
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