【摘 要】
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测试压缩下的功耗问题已经成为近期研究的热点。本文提出了一种新的低功耗广播式测试压缩结构,通过有限状态机控制一半的内部扫描链在扫描过程中接收持续的常数0,另一半
【机 构】
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Department of Microelectronics, Peking University, Beijing, 100871
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测试压缩下的功耗问题已经成为近期研究的热点。本文提出了一种新的低功耗广播式测试压缩结构,通过有限状态机控制一半的内部扫描链在扫描过程中接收持续的常数0,另一半的内部扫描链接收来自扫描通道的测试激励,实现了广播式压缩环境下对内部扫描链选通的自动动态控制。为了提高故障覆盖率,在低功耗广播扫描模式之后增加了串行扫描模式。实验结果表明扫描移位功耗和捕获功耗可降低50％-60％,故障覆盖率可达到无损,不需要对电路结构做大的修改,更适用于大规模的工业电路。
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