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0.95Na0.5Bi0.5TiO3-0.05BaTiO3压电薄膜中面缺陷的原子尺度研究
【机 构】
:
西安交通大学贾春林科学家工作室,陕西 西安 710054
【出 处】
:
2015年全国电子显微学学术会议
【发表日期】
:
2015年期
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