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介绍簿膜型ns壁流探测器中使用的簿膜电阻片受强辐照影响产生断裂现象。文中给出了辐照后薄膜电阻处各项测试结果及简要分析。合肥同步辐射光源200Mev电子直线加速器坑道内，簿膜型ns壁流探测器在线运行七个月后，取下簿膜电阻征做参数测试及结构分析。结果表明，由于电阻片性能变坏，限定了此种壁流探测器的有效使用寿命短于半年。