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本文介绍了一种用于测量长余辉荧光材料荧光亮度的装置，对于长余辉荧光材料的余辉亮度的测量方法进行了研究，讨论了不同的样品制作条件下和不同的激发条件下对荧光材料的亮度的影响，并分析了测量中的不确定度因素。
长余辉荧光粉余辉亮度的测量和评价
【摘 要】
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本文介绍了一种用于测量长余辉荧光材料荧光亮度的装置，对于长余辉荧光材料的余辉亮度的测量方法进行了研究，讨论了不同的样品制作条件下和不同的激发条件下对荧光材料的亮度的影响，并分析了测量中的不确定度因素。
【机 构】
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中国计量科学研究院 北京100013
【出 处】
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中国计量测试学会关辐射计量学术研讨会(2006年)
【发表日期】
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2006年8期
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