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该文叙述Ni—Ti形状记忆合金双向驱动元件的温度—角度试验、温度—电阻率试验、恢复功试验、热循环试验等一系列性能测试试验，并与同类型双金属元件的性能进行了比较。发现：Ni—Ti形状记忆合金双向驱动元件的各项性能，完全优于双金属元件，可取代现今飞行器温控百叶窗所用的双金属元件，应用于飞行器温控设计。（本刊录）