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本文重点研究了MCM-C基板中厚膜电阻寿命的分布及退化规律,试验结果表明厚膜电阻的寿命分布服从威布尔分布.
MCM—C中厚膜电阻寿命分布及退化规律的研究
【摘 要】
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本文重点研究了MCM-C基板中厚膜电阻寿命的分布及退化规律,试验结果表明厚膜电阻的寿命分布服从威布尔分布.
【机 构】
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北京工业大学电子信息与控制工程学院(北京) 信息产业部电子第五研究所(广东广州)
【出 处】
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2003第十届全国可靠性物理学术讨论会
【发表日期】
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2003年2期
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