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本文对利用x射线荧光光谱法测定钒钛磁铁矿选冶样品中主、次量元素的可行性进行了研究。考察了制样熔剂、制样温度、制样时间对样片制备的影响。并利用钒钛磁铁矿标准样品作校准工作曲线，采用理论a系数法和基本参数法对基体效应和谱线重叠效应进行校正。结果表明：X射线荧光光谱法测定钒钛磁铁矿选冶样品中TFe、TiO2、SiO2、Al2O3、Cao、Mgo、V2O5、Mn等主次量元素含量分析方法的精密度和准确度均优于选冶试验样品的分析要求。