【摘 要】
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随着集成电路制造工艺的不断发展，单芯片的集成度越来越高，通过集成各种IP核，系统芯片的功能更加强大，但同时也带来了测试数据量的快速增加．本文提出了一种幂次划分测试数据压缩方
【机 构】
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合肥工业大学计算机与信息学院 合肥 230009
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随着集成电路制造工艺的不断发展，单芯片的集成度越来越高，通过集成各种IP核，系统芯片的功能更加强大，但同时也带来了测试数据量的快速增加．本文提出了一种幂次划分测试数据压缩方法，它将测试数据按照2的幂次长度划分成四种类型，对分块中无关位进行填充后，再依据一种码表对每个分块进行编码．与传统的编码压缩方法相比，本方案进一步提高了压缩率．
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