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X-ray powder diffraction analysis of pharmaceuticals using standard reference materials
【机 构】
:
InternationalCentreforDiffractionData,NewtownSquare,Pennsylvania,USA
【出 处】
:
第十一届全国X射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会
【发表日期】
:
2012年7期
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