微机多探头[*125*]I放免测定仪FT—630的数据处理概述

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该文概要介绍FT—630系统的组成,主要技术指标及其RIA数据处理。其中,包括用多种函数模型拟合标准曲线,最佳拟合函数的选择,QC样品的各种数据处理问题,以及实验精密度管理的若干概念、计算方法和结果判定等。同时文中还列出了该系统与国内外典型产品的比较。(本刊录)
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