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氧分压对电子束蒸发ITO薄膜光电性能的影响
氧分压对电子束蒸发ITO薄膜光电性能的影响
来源 :第十届固体薄膜会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:qq635306700
【摘 要】
:
本研究中用电子束反应蒸发的方法制备ITO 薄膜,测试了膜的可见光透过率、电阻率,讨论氧分压对薄膜光电性能及结构的影响。并在衬底温度为160℃,氧分压为5×10-2Pa的条件下,制得可
【作 者】
:
李林娜
薛俊明
赵颖
李养贤
耿新华
【机 构】
:
河北工业大学材料科学与工程学院,天津300130南开大学光电子薄膜器件与技术研究所&天津市重点实验室:光电信息技术科学教育部重点实验室,南开大学,天津300071南开大学光电子薄膜器件与技术研究所&天
【出 处】
:
第十届固体薄膜会议
【发表日期】
:
2006年10期
【关键词】
:
氧分压
透过率
电子束蒸发
光电性能
透明导电薄膜
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本研究中用电子束反应蒸发的方法制备ITO 薄膜,测试了膜的可见光透过率、电阻率,讨论氧分压对薄膜光电性能及结构的影响。并在衬底温度为160℃,氧分压为5×10-2Pa的条件下,制得可见光范围平均透过率良好,电阻率为6.3×10-4O.cm的ITO 透明导电薄膜。
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