【摘 要】
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本文尝试为等离子体化学气相沉积(PECVD)制备的微晶硅(μc-Si∶H)薄膜太阳电池的P型与I型微晶硅(μc-Si∶H)材料和N型非晶硅(a-Si∶H)材料建立简单实用的光学模型,用以拟合可见和近红外范围(370nm-1000nm)的光谱椭圆偏振测量值(Ψ和Δ)而得到这些材料的光学常数(折射率和吸收系数)谱。采用了Tauc-Lorentz振子模型,并考虑玻璃衬底下表面反射和硅薄膜表面氧化层与粗糙
【机 构】
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南开大学光电子薄膜器件与技术研究所,天津 300071
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本文尝试为等离子体化学气相沉积(PECVD)制备的微晶硅(μc-Si∶H)薄膜太阳电池的P型与I型微晶硅(μc-Si∶H)材料和N型非晶硅(a-Si∶H)材料建立简单实用的光学模型,用以拟合可见和近红外范围(370nm-1000nm)的光谱椭圆偏振测量值(Ψ和Δ)而得到这些材料的光学常数(折射率和吸收系数)谱。采用了Tauc-Lorentz振子模型,并考虑玻璃衬底下表面反射和硅薄膜表面氧化层与粗糙层的影响,得到了比较理想的拟合结果。结合拉曼散射谱分析结果,发现光学常数谱可以反映材料以晶化程度为主的微观结构信息。
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本文以互惠双赢为基本原则对供应商进行质量改进,研究了从质量协议的订立、产品验证、不合格品的分析,不良原因的分析,供应商改进措施的制定,供应商绩效的评定与动态管理等方面,对供应商的质量改进进行了探讨。
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