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针对航空电子器件连接技术,选择无铅焊点为研究对象。基于Ananad方程和Garofalo-Ahrrhenius方程两种本构模型,针对三种疲劳寿命预测方程,采用有限元法和实验研究计算和分析细间距器件SnAgCu 焊点疲劳寿命。研究结果显示,基于两种模型计算的应力时间历程曲线具有相类似的趋势,基于Ananad方程计算的应力值略大于基于Garofalo-Ahrrhenius方程的计算值。针对三种疲劳寿命预测方程,结合试验研究分析焊点的疲劳寿命。基于Anand方程结合Engelmaier修正的Coffin-Mason方程计算的疲劳寿命和试验研究比较接近,而基于Garofalo-Ahrrhenius方程结合等效蠕变应变和蠕变应变能密度计算的疲劳寿命值高于试验值,说明针对细间距器件无铅焊点可靠性基于等效蠕变应变和蠕变应变能密度的疲劳寿命预测方程需要进一步的修正。