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硅异质结电池(HIT)具有制备温度低、稳定性好等优点,在光伏领域具有很好的前景.非晶硅/单晶硅之间的界面态对电池性能影响较大,因而非晶硅/单晶硅界面钝化问题一直是HIT 电池研究热点之一.本论文从模拟与实验两方面研究了界面态密度对HIT 电池的影响.模拟结果表明界面态对电池开压影响较大,而对电池电流密度影响较小(如图1 所示),实验采用少子寿命和表面光电压谱(SPS——surface photovoltage spectroscopy,如图2 所示)表征非晶硅对晶硅表面的钝化效果.