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表面热透镜技术应用于薄膜微弱吸收测量的理论和实验
表面热透镜技术应用于薄膜微弱吸收测量的理论和实验
来源 :第五届全国光子学大会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:fang0998_cn
【摘 要】
:
给出薄膜表面光热形变和表面热透镜效应的理论模型,应用表面热透镜技术建立薄膜吸收测量系统,吸收率测量灵敏度和精度均达ppm量级。
【作 者】
:
范树海
贺洪波
范正修
邵建达
【机 构】
:
中国科学院上海光学精密机械研究所,上海,201800;中国科学院研究生院,北京,100039中国科学院上海光学精密机械研究所,上海,201800
【出 处】
:
第五届全国光子学大会
【发表日期】
:
2004年10期
【关键词】
:
表面热透镜
光热形变
薄膜
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给出薄膜表面光热形变和表面热透镜效应的理论模型,应用表面热透镜技术建立薄膜吸收测量系统,吸收率测量灵敏度和精度均达ppm量级。
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