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该文详细介绍利用DIC-8032大型测试系统对红外焦平面信号电路的测试方法，测试码点的生成，电路的故障诊断和版图验证及测试程度的开发性。
红外焦平面硅CMOS信号处理电路测试技术
【摘 要】
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该文详细介绍利用DIC-8032大型测试系统对红外焦平面信号电路的测试方法，测试码点的生成，电路的故障诊断和版图验证及测试程度的开发性。
【机 构】
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东北微电子研究所(沈阳)
【出 处】
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第十三届全国红外科学技术交流会
【发表日期】
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1998年期
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