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为防止DEH系统的AsT试验过程中可能出现的误操作，在镇电200MW机组AST试验逻辑设计中采用了一系列的逻辑闭锁处理，从而保证了AST试验的安全可靠性。全面介绍了AST试验闭锁逻辑的原理，通过对AST试验工艺流程和试验过程的分析，对原闭锁逻辑进行了改进，供其它类似系统借鉴和参考。