随着集成电路(IC:Integrated Circuit)行业的发展,芯片设计规模不断增大,功能也越来越复杂,使得验证的难度和重要性日益增大,如今验证已成为芯片开发周期的瓶颈。为缩短芯片开发周期,如何提高芯片的验证质量与效率已经成为行业关注的重点。本文对当前流行的验证技术进行了分析并指出传统验证方法学的缺点。因此非常有必要学习和掌握一种高级验证方法学的技巧,提高芯片验证的效率与质量,保证芯片设计的正确性。　　本文研究的内容是设计一款数据帧处理与控制芯片内部的CPU接口模块,并对整个芯片进行功能验证。在RTL(Register Transfer Level:寄存器传输级)设计环节,根据芯片的设计规范和功能要求,首先编写了模块的详细设计方案,确定模块的接口信号以及内部寄存器;然后按照详细设计方案进行 RTL编码。以芯片设计规范为标准,提取 Feature(验证特性)并分解测试点和创建功能覆盖率模型,用来指导下一步验证工作的开展。　　通过对当今业界流行的VMM(Verification Methodology Manual)验证方法学的学习和理解,利用SystemVerilog硬件验证语言(HVL:Hardware Verification Language)在经典的VMM验证架构基础上进行改进,搭建了被测芯片的验证环境,并开发测试用例,使用Synopsys公司的VCS仿真器进行功能仿真验证。仿真过程中同时使用了覆盖率驱动的验证、可约束随机测试和定向测试的验证技术,以代码覆盖率、功能覆盖率衡量验证工作的进展,共同完成验证工作。文章最后给出并分析了所验证芯片的条件覆盖率和功能覆盖率报告,对未覆盖的内容进行分析并给出合理解释。　　实践表明,基于VMM验证方法学,结合多种功能验证方法,能够大幅提高芯片功能验证的效率和质量。