污闪事故严重威胁电力系统的安全稳定运行。分析绝缘子的自然积污特性,进一步补充与人工污秽试验、仿真模拟相配套的自然积污试验数据,是电力系统外绝缘研究的一项基础工作,意义重大。本文基于等值盐密法(Equivalent Salt Deposit Density,ESDD)、显微颗粒图像分析法和原子吸收光谱法(Atomic Absorption Spectrometry,AAS)相结合的方法,针对XP-70型悬式瓷绝缘子进行自然积污试验,分析绝缘子自然积污特性及其污秽主要可溶性成分对等值盐密的影响,以期为外绝缘设计、防污闪工作提供依据和参考。本文首先阐述了绝缘子污秽度的表征,自然积污特性及其污秽可溶性成分的研究现状,污秽度、污秽可溶性成分对绝缘子闪络电压的影响,绝缘子污秽影响因素。其次搭建试验平台,采集不同试验周期、累积月份的污秽样本,分析污秽累积时间、污染严重程度、空气相对湿度、污秽颗粒粒径对绝缘子自然积污特性的影响以及自然积污下绝缘子上下表面积污程度差异。最后采集不同累积月份的污秽样本,分析绝缘子污秽主要可溶性成分Ca2+、Na+对等值盐密的影响及其相关性。分析发现:污秽颗粒对绝缘子积污的影响主要体现在重力导致的湿沉降作用,其中空气相对湿度作用显著;污染严重程度对绝缘子上表面的自然积污特性影响显著,且呈现正相关性,AQI指数从62升至265时将导致绝缘子上表面等值盐密增加65.6%;位于青岛经济技术开发区试验点的绝缘子等值盐密主要受Na+、Ca2+共同作用影响,其中Na+质量分数与对应等值盐密的相关系数达到了 0.74,Ca2+也达到了 0.50。