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新生儿低血糖是新生儿期较为常见的代谢改变，严重且持续的低血糖状态所可引起中枢神经系统损功能紊乱及损伤。以往研究表明，在严重低血糖脑损伤中，顶枕叶受累最为常见，急性期表现为皮层及皮层下水肿，慢性期相应部位萎缩及脑室扩张等。近年研究表明，低血糖脑病的损伤方式更具多样性，而对于低血糖脑病的损伤方式至今仍没有得到充分的认识，磁共振波谱利用化学位移作用原理，能无创的提供活体状态下各代谢化合物信息，研究脑内组织代谢及生理生化改变，为进一步明确新生儿低血糖脑病的发病机制和早期准确地评估预后提供了一种手段和方法。
目的：
探讨新生儿低血糖脑损伤的MR特征及其发病机制的同时探讨新生儿低血糖患者中1H-MRS表现及其临床应用价值。
材料与方法：
收集分析34例临床确诊的新生儿低血糖患儿的临床及MR资料，并对其中12例患者及10例正常新生儿行磁共振波谱检查，将两组间各代谢物相对浓度进行比较，所采用的低血糖诊断标准为血糖值＜2.6 mmol/L。
结果：
低血糖脑损伤的主要受累部位为顶枕部，占94.12％(32/34)，其中双侧顶枕叶61.76％(21/34)。胼胝体压部损伤亦较为常见，占64.71％(22/34);额叶损伤占32.35％(11/34)，其中有54.54％(6/11)为弥漫性脑损伤累及额叶。脑损伤主要表现为皮髓质交界不清，呈稍低T1稍高T2信号，DWI上病变均呈明显高信号。低血糖脑损伤患儿磁共振波谱Lac/Cr, Lip/Cr浓度均高于对照组(p＜0.01);差异具有显著性意义，脑损伤组NAA/Cr浓度低于对照组，差异具有显著性意义(t＜0.01);
结论：
新生儿低血糖脑损伤具有一定的特征性，以双侧顶枕叶伴随胼胝体压部损伤最为常见，严重时可表现为弥漫性脑损伤，DWI更有利于辨别病灶。磁共振波谱能有效评价新生儿低血糖脑损伤，NAA/Crr、Lac/C及lip/Cr比值可作为检测新生儿低血糖脑损伤的观察指标。