水稻属喜温作物,温度的变化对其影响极大,低温冷害是水稻生产上的一大威胁,可造成水稻明显减产,甚至颗粒无收,常常造成经济上的巨大损失。培育健壮的秧苗是水稻生产的重要环节,秧苗的质量可直接影响到水稻的品质和产量。而有关育苗期水稻的抗寒性研究未见报道。本试验应用电阻抗图谱法,结合水稻细胞内部结构,选择相应的等效电路模型,对在低温胁迫下育苗期水稻叶片的电学特性进行研究,结合电解质外渗法测得的数据建立回归模型。试验表明,电阻抗图谱法可以作为一种新的检测方式对育苗期水稻叶片进行检测,该检测方法方便、快速、准确且无损,突破了传统的检测方式。试验取得的主要研究成果及结论如下:确定了试验过程中所需的参数并设计了夹持装置。该夹持装置设计简单,成本低,可控制试验过程样本与电极的接触面积,使用配有屏蔽线的纯铜导线连接阻抗检测系统。确定了育苗期水稻叶片的检测位置并进行差异性分析。结果表明,检测倒二叶片,叶片最宽处稳定性最佳;在同一批秧苗中,任取一颗水稻秧苗进行检测,测得结果可代表整批秧苗。育苗期水稻叶片电阻抗图谱为完整、对称、单一的半弧,适用于Cole-Cole等效电路模型。低温胁迫下,将水稻秧苗分别置于0℃、-4℃、-8℃、-10℃中处理0-8h,测其电阻抗图谱,结果表明:水稻叶片受到可逆伤害时,电阻抗图谱为完整、对称、单一的半弧;受到不可逆伤害后,半弧左侧开始消失;电阻抗图谱右侧开始变为散点时,水稻趋于死亡。电阻抗图谱变化与相对电导率变化趋势保持一致。在水稻未死亡时,随胁迫程度增加,叶片的胞外电阻、弛豫时间减小,胞内电阻增大。电阻抗图谱可代替电导率法检测低温胁迫下水稻的生理状态。电阻抗图谱参数中除胞内电阻对温度的差异显著外,胞外电阻、弛豫时间对胁迫程度的差异均为极显著。Logistic函数可以很好地拟合水稻叶片胞外电阻的变化,即胞外电阻是冷冻处理后确定水稻叶片抗寒性最适合的参数。综上试验结论所述,电阻抗图谱可代替电解质外渗法检测低温胁迫下育苗期水稻的生理特征,试验结果准确,过程简单、方便、快速,且不对水稻叶片造成损伤。本试验为利用电阻抗图谱法研究水稻抗逆性提供了研究基础。