MCU在医疗、通信、交通、工业电子设备、仪器仪表和消费类电子等国民经济中得到广泛的应用，充斥在人类生活和国民经济的各个方面，推动着国民经济的迅速发展。一个MCU芯片的面市包括了设计、验证和生产等，其中验证所耗费的费用和时间占了整个MCU芯片成本的70％～80％。因此，对MCU测试验证技术的研究已经成为当今世界IC行业的发展重点之一。　　本论文的待测8位RISC MCU是学术研究用的一款兼容PIC中端MCU系列指令集的快速8位MCU。8位RISC MCU资源中包含了软件和硬件中断、串行外设接口(SPI)、通用同步/异步串行接收/发送器(USART)、LF数据接口、定时/计数器、IO端口、电源管理单元和看门狗单元等。　　本论文主要研究了MCU功能测试验证方法和FPGA验证方法及其在MCU芯片测试验证中的应用。针对待测8位RISC MCU进行了功能测试平台及FPGA测试平台的搭建，在功能测试平台及FPGA测试平台上对待测MCU进行了较完善的软硬件协同测试，验证了实际设计是否满足设计标准的要求，并对设计中的改动部分重点验证以确定所设计芯片是否满足项目需要。并为以后相似芯片的测试验证积累经验，探寻一套行之有效的功能测试验证方案。　　通过仿真平台及仿真工具的测试验证，结果表明待测MCU满足需求设计标准的要求，其功能完全满足项目需要。