随着科学的进步和物理学研究的深入,因其在生物医疗、天体物理、成像机制、等离子体物理等方面的广泛应用,电子与分子碰撞的问题受到了越来越多的重视。人们在电子分子散射实验研究中发现,低能电子碰撞会引起DNA分子的解离,从而导致DNA链的断裂,这一现象揭示了低能电子诱导生物分子辐射损伤的机理。反物质研究领域的引入将正电子带入研究者的视线。正电子目前已经广泛运用在材料测试领域和医学治疗领域上,比如正电子湮灭谱仪已经被用来测试材料的特征,正电子发射计算机断层显像装置已经在肿瘤诊断上发挥着重要的作用。因此,对电子、正电子与分子碰撞的散射及其动力学过程研究具有很重要的实际价值和意义。尽管目前需要大量的散射截面数据,但是由于方法的局限性,目前仍难以准确描述散射电子和靶态的波函数和极化效应,对于电子、正电子与分子碰撞和散射机理的模拟还有许多问题需要解决。在本论文中,我们运用R矩阵方法,使用不同的计算模型,对HNO分子和甲醛分子的低能电子和正电子散射过程进行了研究。具体的研究内容如下:首先介绍电子分子散射和正电子分子散射国内外的研究现状,包括已经报道的实验和理论研究。接着对开展电子/正电子分子散射动力学的各种方法和理论做了介绍,其中重点介绍本文使用的R矩阵方法。随后介绍了我们利用R矩阵方法对HNO分子进行电子和正电子的散射动力学研究。在电子-分子散射研究中,我们探测到可能存在的电子分子共振态,并对它们进行了标示,报道了弹性散射积分和微分截面,以及动量转移截面等。最后介绍使用R矩阵方法对正电子与HNO和CH₂O两个分子的散射动力学研究。具体介绍了正电子散射的理论基础,程序构架,计算方法等等。我们通过计算CH₂O分子的正电子截面数据,并与实验值的对比证实了使用方法的可行性。进一步使用该方法,我们得到了不同模型和不同活化空间下的HNO-正电子的散射截面。由于极化效应对正电子碰撞的结果有着重要的影响,因此我们也测试了采用不同的方法处理极化效应对截面的影响研究。