采用光栅投影数字相移法进行三维物体面型测量，并在实验系统中加入同步触发装置，实现了三维测量的自动控制。使用投影仪代替传统的机械移相器，减小了传统移相器带来的条纹相移过程中的相移偏差;采用MC100芯片作为同步移相触发器，实现计算机控制同步触发光栅投射和图像采集功能。利用计算机图像软件绘制四幅等相位差正弦条纹图像，使用投影仪将四幅移相光栅图像依次投影到物体表面，减小了相移过程中的误差，提高了精度。　　本文主要的研究内容如下:　　1.建立了物体三维面型测量系统。由计算机控制将四幅等相位差的光栅条纹依次投影到物体表面，物体表面的高度起伏使四幅条纹图像发生形变。计算机控制CCD摄像机对变形的条纹进行采集，传输到计算机进行存储和计算。　　2.在实验系统中加入了同步触发装置。利用触发器发出同步触发信号，控制液晶投影仪进行光栅投影和CCD摄像机拍摄，使光栅切换和图像采集达到同步。　　3.在同步触发装置中设计了CCD拍摄延时功能。为了避免CCD摄像机在条纹图像交替切换时拍摄到叠加图像，延时功能能够确保光栅相移图完全切换至稳定图像，使CCD摄像机获取单一光栅图像，实验系统的精确度得到提高。　　4.利用计算机图像软件绘制了四幅相位分别为0，π/2，π，3π/2的正弦光栅图像。使用投影仪投射模拟的正弦光栅条纹，来实现条纹周期、强度等属性的可控性，可实现对任意大小和任意边界物体的测量。