随着科学技术的发展，近年来粒度测量已经涉及到国民经济的各行各业，在国民经济的许多部门，如石化、石油、冶金、建材、消防、陶瓷、制药、水泥、涂料、军工等行业中都越来越多的出现了与细微颗粒密切相关的技术问题，其中颗粒粒径大小及分布的测量是非常重要的一个方面。利用激光散射原理结合光学、电子学、计算机技术等，就形成了可操作的测量粒度分布的方法。目前天津大学研制的激光粒度仪采用ISA总线接口卡采集粒度数据。但是，由于ISA总线的传输速度和数据宽度的限制，ISA总线标准正在逐渐退出市场,因此要寻求一种替代的总线接口方案。经过对比和论证，决定采用PCI总线接口解决激光粒度测试系统的数据采集与传输问题。本系统采用专用接口芯片S5933与CPLD相结合的方式实现PCI总线接口卡的设计，充分利用了PCI总线的高性能、高可靠性等特点，为激光粒度测量数据的实时采集、显示、处理提供了可靠的保证。本论文的主要工作：在充分了解CPLD、S5933等器件的知识基础上，设计基于PCI总线的激光粒度仪硬件系统。用CPLD开发了PCI采集卡的ADD-ON逻辑，通过DMA方式实现激光粒度仪数据由ADD-ON总线向PCI总线的传输。编制WIN2000操作系统下的PCI接口卡硬件驱动程序。对激光粒度测量软件LSA的数据采集部分进行了相应的改进，并使用新的激光粒度测量系统完成了对标准粒子板的测量实验，得到了满意的结果。