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钴铁氧体(CoFe2O4)薄膜作为一种高密度的磁记录介质,其具有较高的矫顽力和垂直各向异性,较好的化学稳定性以及耐磨损性。本论文主要研究了SiO_2的掺入对CoFe2-xSixO4(x=0,0.1,0.2,0.3)薄膜微观结构及磁性能的影响,所用基片分别为Si(100)和MgO(100)。采用射频磁控溅射法制备了CoFe2-xSixO4/MgO薄膜,薄膜具有尖晶石结构,且结晶取向与退火温度有关, SiO_2的掺入使得薄膜的晶格常数变小。CoFe2-xSixO4/MgO薄膜的磁性能与退火温