在工业X-CT(Industrial Computed Tomography,简称ICT)系统中,X射线探测技术是工业X-CT系统的三大关键技术之一(X射线探测技术、图像重建及处理技术和机械与自动控制技术)。X射线探测技术就是如何把X射线与被检测物作用后,将包含有被检测物信息的射线信号转化成为计算机可进行处理的电信号。该测量技术将直接影响到工业X-CT系统的性能指标及应用效果。本文首先讨论高能X射线工业CT的探测与数据采集系统的结构,详细分析了工业CT的探测与数据采集系统各部件的工作原理和分类,并对相同器件的不同种类的优缺点进行了比较,为确定设计方案提供了参考;其次本文结合了高能X射线的特点,分析了传统的射线探测方案在高能X射线工业CT的探测与数据采集系统中的弊端,采用了一种基于电流积分放大器的高能X射线采集方案;再次在本文中我们提出CdWO4闪烁体+PIN型光电二极管+电流型A/D转换器DDC118+CYLONE系列FPGA的方案,结合实际情况论述了该方案在实际应用中的可行性以及硬件电路的实现;最后本文利用Altera公司FAPGA固件编写软件Quartus II实现基于FPGA的探测与数据采集控制系统,同时本文对探测与数据采集控制系统各个模块的实现和功能进行了详细的描述,并对每个模块进行了仿真并给出了仿真结果。在探测与数据采集系统硬件与软件实现以后,我们采用Altera公司的嵌入式逻辑分析仪SignalTap II对系统进行调试并对结果进行分析,其实验结果表明我们所设计的探测与数据采集系统性能指标达到了预期的目标。