1988年,Avaronov,Albert和Vaidman首次提出了弱测量的概念。在测量设备和测量系统耦合强度很弱的情况下,后选择态的选取能够使得测量值远远大于被测量系统可观测量的本征值。这一结论虽然违反常理,但目前已经被实验验证。弱测量做为一种量子测量方法,在精密测量领域有着广泛的应用前景。目前,用于精密测量的弱测量技术主要分为弱值放大和联合弱测量两种。在以往对弱值放大弱测量理论的研究中,用量子态表示的测量设备都被假定为纯态。然而,由于实验环境的扰动,制备纯态并不容易。另外,在传统的弱测量实验中,经过后选择的光子直接被探测器接收,虽然这样做可以简化实验操作和数据处理过程,但并不能有效的提高弱测量的放大倍数。因此,本文着重研究基于关联光学技术的弱测量实现的新方法。这种方法着眼于在二阶关联系统的框架下实现弱值放大。经过理论分析,这种新方法可以有效的提高弱测量的放大倍数。不同于弱值放大弱测量,联合弱测量通过参数估计方法得到被测参数的值。参数估计算法和数据采集系统对于联合弱测量实验起着重要的作用。因此,本文的另外一个研究重点是参数估计算法的实现,以及建立一套数据处理系统。本文围绕着弱值放大弱测量和联合弱测量进行研究。研究工作具体包含以下几个方面:1、介绍有关弱测量的基本概念,并分别介绍弱值放大弱测量和联合弱测量的理论和实验。2、提出一种基于二阶关联技术的弱测量实现的新方法,通过理论计算证明方法的可行性,进而提出建立二维二阶关联函数图样,从图样中找到能使放大倍数增大的扫描方法,并计算在这种方法下的信噪比和分辨率,分析新方法的性能并与传统弱测量方法比较,证明新方法的优越性。3、介绍最大似然估计算法及其在联合弱测量系统中的应用,设计后处理系统完成对物理系统的数据采集和数据处理。