随着光通信技术与光电子技术的高速发展,形成了一门新兴的交叉学科—微波光子学。微波光子链路是微波光子学的关键组成部分,可以在光域上实现微波信号的传输与处理。与传统的微波链路相比,微波光子链路具有带宽大、损耗低、体积小、重量轻、抗电磁干扰能力强等优点,广泛应用于光通信、光传感、智能交通、雷达、电子战等领域。波导微波光子器件作为微波光子链路的核心器件,其性能的好坏直接影响链路性能的优劣,因此对波导微波光子器件的精确测试就显得尤为重要。本论文的主要工作是对波导微波光子器件测试系统的研究,并利用该测试系统对聚合物光波导延时线的性能进行了测试。本文首先建立了波导微波光子器件测试系统的关键组成部分—外调制微波光子链路的小信号模型,仿真分析了调制器输入光功率、直流偏置点相位、半波电压、光电探测器响应度和激光器相对强度噪声系数对链路性能的影响。在此基础上提出了测试系统的总体设计方案,重点研究了Mach-Zehnder(M-Z)电光强度调制器偏置点稳定控制系统。设计并研制了基于数字PID控制算法的最佳线性偏置点稳定控制系统。实验结果表明,当调制器输入光功率为7mW,所处的环境温度由20℃上升到50℃时,该控制系统可使调制器工作在最佳线性偏置点处的输出光功率的波动小于4μW,与没有控制系统时的292μW相比,调制器的输出光功率稳定度提高了72倍。基于系统总体方案建立了波导微波光子器件测试系统,实验验证了调制器输入光功率和调制器直流偏置点相位对链路性能的影响,实验结果和理论仿真基本一致；并对不同长度的聚合物光波导延时线的光学特性和微波特性进行了测试,实验结果与理论值高度吻合,延时量测试误差在1.1 ps以内,分析了误差来源,为进一步提高测试系统的测量精度提供了有益参考。