对于AC/DC(交流/直流)产品的测试方案,在当前大多数的封测工厂中,采用的都是基于常规变压器的闭环测试电路,通过模拟实际应用电路来进行测试。这种测试方法的优点明显,可以尽可能地模拟实际使用条件,最大限度地降低测试的误判率。但不足之处也显而易见,常规变压器稳定时间长,导致测试时间长、速度慢,通常每颗产品的测试时间约有1.6~2.0s。此外,不同变压器器件规格上的微小差异,也会导致测试结果出现偏差。为了保证测试的准确性,在每次测试前,往往需要用标准样品,来校验测试系统,费时费力。为了优化AC/DC测试系统,提高测试速度和可重复性和可再现性性能,本文以一款AP3771 AC/DC电源转换芯片为例,提出采用数字变压器来替代常规变压器,重新设计测试电路。测试参数的%GR&R(可重复性和可再现性百分比)值,是衡量测试系统性能的一个指标,这个值越小代表测试系统性能越稳定。常规变压器的测试系统,各测试参数的%GR&R值,基本在10%~21%。而新设计的测试系统,将各测试参数的%GR&R值,降低到5%~11%,单颗产品的测试时间降低到0.8s左右。通过样品试生产测试数据分析可以得出,新系统将各测试参数的%GR&R性能平均提高约38%,测试的时间降低约60%,测试的可靠性和速度都大大提高,该方法可为以后其他类似产品的测试系统开发,提供新的思路和方法。