伴随着市场对于大容量存储设备需求的不断增加,3D NAND Flash（以下简称闪存）以其低功耗,低成本,抗震动及非易失性成为目前最理想的大容量存储介质之一。闪存制造工艺的不断改进虽然满足了日益增长的容量需求,但闪存可靠性问题也愈发严重。闪存特征尺寸的不断减小,3D结构带来的新的闪存错误机制都使得闪存更容易出现错误。闪存可靠性问题成为制约闪存持续发展的重要因素之一,闪存可靠性的相关检测变得尤为重要。对于闪存可靠性的测试,国内外现有的闪存测试设备均存在测试效率低下,缺乏可靠的数据处理和分析,破坏性测试等不足,仅能用于高校实验研究,无法承担大规模的闪存测试任务。因此,本文使用C#编程语言,基于Socket编程和线程池技术详细设计了适用于大规模闪存测试的上位机软件系统。该上位机可以同时控制64块闪存测试板（基于xilinx zynq7030研制）并行独立地进行闪存的各种类型测试,并通过以太网口收集原始测试数据存储到SQL Server数据库,对数据进行处理分析,然后根据得到的闪存芯片坏块率和误码率按照指定标准对闪存芯片进行筛选评级。另外运用C#和Matlab的联合编程,利用人工神经网络建立闪存剩余寿命的预测模型,实现了闪存寿命的非破坏性测试。最后,上位机支持将原始测试数据高效地导出为平面csv文件,并基于测试数据生成报告文档,详细记录本次测试任务的具体信息,筛选和寿命预测结果,给出针对闪存块P/E（Program/Erase,编程/擦除）循环中各物理参数的变化曲线图。本文选择512颗英特尔闪存芯片作为测试实验样本,对闪存测试上位机软件进行了系统的功能测试验证,以及针对容错能力,性能,系统资源占用等的非功能测试,测试实验结果表明该上位机可以高效完成大规模的闪存测试任务,且具有良好的易用性和可靠性。