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氧化锌(ZnO)是一种多功能的Ⅱ-Ⅵ族宽带隙半导体材料。由于在短波长光电器件方面拥有巨大的潜在应用价值,近十年来,在全世界范围内掀起了有关ZnO薄膜的生长工艺和光电特性的研究热潮。本论文中,我们采用两种不同的生长工艺在Si(111)衬底上制备了ZnO薄膜,一种是热氧化金属Zn膜法,另一种是脉冲激光沉积(PLD)法。并用x射线衍射(XRD)、扫描电子显微术(SEM)、反射式高能电子衍射(RHEED)和光致发光(PL)谱分别对样品的结构、形貌和发光特性进行了表征。对于用热氧化法制备的ZnO薄膜,测试结果