当今社会,集成电路产业已经成为已近成为衡量一个国家综合实力的标准,集成电路测试横穿集成电路生产和应用整个过程。因此集成电路测试显得尤为重要,它使得集成电路生产和应用变得可靠与高效。集成电路测试主体是自动测试系统,即集成电路测试仪。当今的高档测试仪已经能完成超大规模数模混合型集成电路测试。本文提及的集成电路测试仪主要运用于中小规模集成电路,为刚起步的国内自动测试行业做出了一定贡献。本文主要介绍自动测试系统软件体系结构及实现,该测试仪采用PC/ARM体系结构,因此在软件设计上分为上位机软件设计、下位机软件以及通信软件设计。本文开始介绍了集成电路测试系统的概念、发展趋势以及意义;接着介绍了测试仪硬件体系结构,抽象出了ARM/PC结构硬件框架;在分析硬件框架以及功能要求基础上本文详细介绍了上位机软件功能结构和层次结构、下位机软件功能结构和层次机构以及上下位机USB通信思路;在总体把握软件设计框架后,本文详细介绍了作为上位机和下位机通信的纽带—USB通信的设计方法和实现以及HP万用表通信函数设计。紧接讲述了面向用户编程的底层实现方法;最后结合本测试仪和测试方法进行用户编程,对一种运算放大器进行实际测试,并对测试结果进行了分析。本文设计实现的自动测试系统可实现灵活的用户流程图编程,系统工作稳定,满足国内中小规模集成电路生产制造企业对集成电路测试的需求。