本论文是基于公司管理层及研发团队针对缩短可靠性验证周期的需求而开展的研究,目的是以HALT (high accelerate life testing)高加速寿命试验为基础结合自身产品设计规范,优化改进可靠性试验流程,达到缩短试验周期,减少样品消耗,最终得到加快试验周期,降低成本的目的。论文仔细分析了国内外HALT的发展现状,介绍了HALT试验的理论依据,实验条件,硬件要求等,针对公司的需求和现状,提出了以下6项研究内容,并制定了研究、试验方案。1.高加速寿命试验是否可以作为传统可靠性验证试验的完全替代方案,或者部分替代方案。2.高加速寿命试验与传统可靠性试验的换算关系。3.高加速试验用于预验证,以提早发现设计潜在瑕疵,提高性验证一次成功率。4.高加速试验替代传统Burn In用于生产线产品早期失效筛选。5.如何制定企业内部标准,以便可以方便的重复。6.出现失效后,如何最快进行失效分析,以制定修正计划。经过大量试验验证,结果表明：1.高加速寿命试验作为光电通讯产品非全新平台、技术的新产品研发引进过程中的可靠性验证项目是可行的。本公司产品通过96小时HALT可以符合应用需求。2.高加速寿命试验可以验证产品设计极限,验证产品使用条件区间,暴露设计缺陷。3.高加速寿命试验相比传统可靠性验证具有周期短,样品投入少,人员投入少,设备投入成本低等众多优点。4.高加速寿命试验的失效与传统可靠性验证失效一样需要进行失效分析,制定改进措施,以提高产品可靠度。5.高加速应力筛选替换传统burn in老化可以更有效筛出早期失效,减少潜在的客户投诉。6.高加速寿命试验无法直接换算MTBF和FIT,如果需要这类寿命预估值,仍然需要结合HTOL寿命测试。在经过本次研究之后,公司内制定了新的新产品引入验证程序,其中包含了极限验证,设计预验证,可靠性验证,早期失效筛选,日常生产可靠性监控,并将这流程制作成流程图以便今后更好的贯彻。由于HALT标准是在已知产品及已知失效模型的基础上经过对现有产品进行试验验证而得出的,因此得出的HALT可靠性验证试验标准不适合于新工艺、新技术平台下的全新产品。新技术条件下设计出的产品可能在HALT下会有意外的失效。因此该标准适用于已知产品的技术变更,同系列产品中的衍生新产品,老产品的日常可靠性验证。对于全新技术平台下的新产品,建议使用HALT研究设计极限,暴露设计缺陷,改进完善后再用传统的可靠性验证进行验证,需稳定量产后收集HALT耐久度水平,再决定HALT的应用标准,以在最优化的条件下使产品满足应用需求。HALT相对于传统可靠性试验在各方面都有着优势。对于没有计算MTBF或FIT需要,且客户可以接受HALT作为新产品验证标准的企业,是一项重大突破。虽然光电通讯行业需要一些额外的验证试验,如光缆、电缆的完整性试验,光、电接口插拔耐久度试验；本行业标准的符合度测试如MSA, FICOS,防尘试验等等,但以HALT与这些试验结合,将大大缩短试验周期。对于不适合完全使用HALT作为验证标准的新产品,在研发前阶段以HALT作为的设计余量验证也可以提高产品可靠度,提高产品可靠性验证的一次通过率。虽然以HALT作为新产品验证中的可靠性验证优点颇多,但其遗留问题仍然需要我们不断去完善,诸如研究HALT引起的一些未知的失效模型,解决HALT无法预估MTBF/FIT的问题,如何制定业界认可的HALT验证标准等等,带着这些问题,我们会在今后的工作中继续深入研究,期待早日取得突破。