论文部分内容阅读
随着微电子技术、纳米技术和半导体材料的发展,电子器件和光电器件的运行速度得到了前所未有的提高,然而,要评价这些器件的性能参数,就需要超高速的电信号和超高速的检测系统,在这样的背景下,本课题研制了超高速光电导开关,完善了基于电光采样技术的测试系统。通过对光电导开关基本结构和原理的分析,对光电导开关的输出进行了模拟,然后,设计和制备了超高速光电导开关器件,并对超高速光电导开关的基本特性进行了测试,同时搭建了超高速光电导开关输出电脉冲的测试系统,以期用超高速光电导开关的输出电脉冲作为输入信号,采用搭建的测