目的：有创颅内压监测感染几率平均为5%(0-9%),在重型颅脑损伤术后因颅内压监测导管致颅内感染的发生几率与颅内压监测留置时间的关系及引起颅内压监测感染途经的探讨,并与其它可能所致的此种感染的因素进行统计学分析。方法：收集我院行急诊手术的57例重症TBI患者,进行严格的纳入排除标准,术后均行颅内压监测,按监测天数将患者分为1-3天、4-7天及8-10三组,探讨此种颅内感染与置时间、术前及术后GCS评分之间的关系,分析监测天数对患者预后是否有影响。并对颅内感染的患者进行传感探头尖端进行细菌培养,并对三组病原菌株数及相关构成比进行统计分析,分析可能与何种原因有关。结果：置管时间与颅内感染有相关性(P<0.01)即感染的风险随留置时间的延长患者感染的几率逐渐增加,也与患者术后GCS评分有相关性(P=0.017)即患者预后GCS评分越低患者往往颅内压监测时间都较长,而与患者术前GCS评分及患者性别、年龄均无相关性无统计学意义。结论：在重症颅脑损伤中ICP监测装置随监测时间的的延长会增加患者颅内感染的几率,术后监测时间与患者预后GCS评分呈负相关。