随着半导体制造工艺的发展和集成电路设计技术的提高,芯片设计业己进入了系统级芯片(SoC, System On Chip)时代。如今SoC的一个重大特点就是内嵌了大量IP(Inte-llectual Property)硬核,因此,对SoC中IP硬核测试的成效直接影响到SoC测试的成败,并且,IP硬核的测试已成为IP硬核设计和复用的瓶颈,因此,研究IP硬核的测试技术成为我国电子信息产业的重大课题,具有重要的理论价值和实际意义。　　如今单个IP硬核的引脚越来越多、时序越来越复杂、功能也越来越强,并且SoC的最终成品测试必须在自动测试设备(ATE,Automatic Test Equipment)上进行,因此,对单个IP硬核的测试也越来越倾向于使用ATE。在ATE上开发IP硬核测试程序首先遇到的难点就是测试向量转换,对此本文研究了国内集成电路设计业中最常见的几种仿真向量转换到ATE所能识别的测试向量的转换思想、过程及具体技术细节。针对各式各样的IP硬核,本文研究了基于ATE的数字IP硬核的测试原理、方法;重点研究了基于ATE的典型模拟/混合IP硬核ADC核和DAC核的测试技术,并对其中的关键算法进行了对比、分析、推导和论证。　　最后利用Verigy93000混合信号测试系统对一款内嵌了多个IP硬核的通信SoC进行了测试实践,测试结果表明被测SoC的各项指标均符合设计要求,并验证了文中阐述的测试理论和测试方法。本课题的研究成果在一定程度上促进了国内基于ATE的集成电路测试技术的发展。