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Bi系超导薄膜材料具有比如表面积大,缺陷密度高,组织经常处于亚稳状态,性能对结晶参数非常敏感及影响晶体取向的因素非常复杂等特点,加之高质量的薄膜生长对制备工艺及设备的要求很高等方面的限制,因而在如何选用适当的方法和工艺参数在Bi系超导薄膜制备中诱导合理的织构分布,进而在结晶过程中人为地控制晶体取向以及认识织构对薄膜性能的影响规律等,仍是目前的研究难点。所以正确的分析Bi系超导薄膜的织构特性,成为进一步处理控制晶体取向的重要前提。EBSD织构测试技术使得在观察样品组织形貌的同时进行晶体学取向分