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综合孔径微波辐射计的技术已经相当成熟,它广泛应用于对地遥感,目标探测等领域。相比于实孔径微波辐射计,综合孔径微波辐射计利用小天线来代替大天线,避免了天线口径过大带来的机械扫描困难等问题。然而,大型综合孔径辐射计由于通道个数太多面临通道不一致性问题,这会导致辐射计反演出的场景亮温的失真。特别是在星载综合孔径辐射计的应用中,星上校正也成为一个难题。相关运算耗费了大量的时间,使得在数据量大的情况下数据处理耗时长,效率低。在这一背景下,本文旨在提出一种新的微波辐射成像系统——基于延时相关的综合孔径辐射计。本