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目的：用体外细胞培养方式确定不同浓度内皮素(endothelin，ET)-1有无直接诱导培养神经元凋亡的作用，以及其作用通过的ET受体亚型。 方法：神经元培养取自乳鼠大脑皮质细胞。培养5天后加入不同浓度的ET-1(0.2nM，20nM)处理24h。用Annexin V、Hoechst 33258染色半定量测定细胞凋亡。接着在用20nM ET-1处理同时，分别加入BQ123(ET受体A拮抗剂)或BQ788(ET受体B拮抗剂)，24h后用流式细胞仪检测凋亡。 结果：低浓度ET-1(0.2nM)处理后24h，培养神经元Annexin V和Hoechst 33258染色阳性细胞率与对照组相比无显著性差异(P＞0.05)；高浓度ET-1(20nM)处理后24h，培养神经元Annexin V和Hoechst33258染色阳性细胞率较对照组明显增高(P＜0.01)，流式细胞仪检测细胞凋亡率显著高于对照组(P＜0.001)；BQ123和BQ788分别部分阻断了ET-1诱导神经元凋亡的作用(P＜0.01)，但阻断效果不完全。应用BQ123或BQ788后的细胞凋亡率虽低于ET-1处理组，但仍较空白对照组高(P＜0.01)。 结论：高浓度ET-1(20nM)可直接诱导培养SD大鼠大脑皮质神经元凋亡，但低浓度ET-1(0.2nM)则无此作用。ET-1诱导神经元凋亡的作用是通过其A受体和B受体亚型同时实现的。我们的研究提示，人体各种病理生理条件下过高的ET-1可直接导致神经元死亡，而ET受体拮抗剂可起保护作用。