超大规模集成电路已经展到了深亚微米系统芯片阶段。随着生产工艺的改进,电路的集成度还在不断的提高。由于超大规模集成电路晶体管个数和密度的增加,测试这样的电路面临许多问题。其中比较严重的问题有三个:它们分别是测试时间、测试数据量和测试功耗。测试时间和测试数据里直接影响着测试成本。在串行扫描结构中电路在测试状态下的节点跳变率和功耗要比正常模式下高。高功耗导致的芯片过热会使无故障电路生成错误的相应数据,甚至毁坏电路降低产品的成品率。本文围绕SoC低功耗测试展开了一系列的研究。测试功耗按产生的形式不同可以分为动态功耗和静态功耗两种。本文主要研究如何抑制电路的动态功耗,鉴于随机扫描结构(Random Access Scan,RAS)在降低动态测试功耗中的突出表现,本文着重研究了基于RAS结构的测试方法。本文提出了一种基于RAS结构的测试方法:该方案首生成几个折叠集测试电路中大部分的故障,然后直接翻转扫描单元得到剩余故障的测试向量。通过编码折叠控制信息从而降低了测试数据量。通过调整折叠集中向量序列提高了测试数据相关性,因此有效的控制了测试功耗。并行的测试数据加载方式有效的减少了测试时间。为了减少RAS结构的硬件开销,本方法引入了输入精简技术对扫描单元进行受限分组。分组后RAS结构给每个分组一个控制信号,有效的降低了RAS结构中地址译码器的复杂度。扫描链分组使编码时的寻址范围缩小,从而进一步提高了数据编码的效率。受限分组策略减少了折叠集中向量的个数,因此降低了时间开销。但是由于同一时刻发生变化的扫描单元又有所增加,所以测试功耗也有略微的增加。