布图是超大规模集成电路(Very Large Scale Integrated circuit, VLSI)物理设计的一个重要的阶段。本文主要是针对布图规划需要,建立相关的增量式布局规划工具,对前期得到的布局结果进行校正和优化。模拟退火(Simulated Annealing,SA)是一种广泛应用VLSI标准单元布局优化的算法,该算法的不足之处是运算时间较长。本文对模拟退火算法进行改进,提出了一种有序扰动模拟退火过程OPSA(Ordered Perturb SA)思想,以减少其运行时间。TCG表示法是一个基于图的表示法。保证其可行性是一件非常复杂的工作。本文针对保持可行性,给出具体分析,并对违反可行性的例子进行了说明。同时给出了改进的TCG数学描述。针对基于固定边界约束,本文提出了一种处理固定模块位置约束的后处理优化算法。该算法首先通过迭代的调整TCG图中的关键路径,使不满足固定边界约束的布图将会满足该约束。同时,为处理固定模块而在TCG中增加虚拟节点,使得固定边界约束和固定模块位置约束统一起来。从而在为满足固定边界约束而进行的后处理优化过程中,固定模块位置约束也会满足。本文提出了一种基于松弛量计算的增量式优化算法。在布局完成后,将布局转化为TCG,根据模块间的松弛量分配,对模块进行区间扩展(enlargeRegion)操作,得到重布置/重设置大小/重设置形状操作的结果。该算法可用于减少空白区间,线长,分散热点温度；可以处理固定边界约束,重叠约束不满足的情况。本算法使用松弛量做运算,可以充分利用TCG和图数据结构的各参数和基本算法。该算法可应用与优化空白区间,线长,分散热点等。论文对模拟退火算法和TCG表示法深入研究；针对固定边界和固定模块约束提出解决方案,针对布局空白区间的优化提出解决方案。实验结果表明各方案有效,同时给后续工作留有很大空间。