本文论述了X射线单晶回摆曲线测定仪的研制与开发。 X射线单晶回摆曲线测定仪是检测晶体缺陷的专用设备。它是应用小功率X射线发生装置的低成本单晶材料检测仪器。工作光学原理主要依据布拉格方程，X射线单晶回摆曲线测定仪的下位机采用基于Cygnal公司的C8051F005单片机的数据采集控制系统以及步进电机驱动系统。首先，本仪器在测量单晶材料过程中，采用了微弱信号检测技术，并通过单片机采集数据。经RS232串口通讯，数据传输到基于VB语言和Access数据库设计的上位机。其次，上位机系统进行数据处理，其中包括对峰形曲线进行衍射线线形分析，如Kα2双峰分离等。数据处理后得到回摆曲线，从而测定出单晶材料的各种参数，如峰形半高宽FWHM(FullWidthsatHalfMaximum)，峰位角度，峰高等。最后，指出晶体是否有缺陷。 本仪器达到了与进口高成本衍射仪相近的结果。目前，此设备已经投入了市场，运行效果良好。